多维度激光扫描共聚焦成像技术介绍
--超高分辨及荧光寿命成像在各领域的应用
主讲人：王文静 徕卡显微系统应用工程师
具有丰富的激光共聚焦、STED超高分辨、显微切割及荧光寿命成像经验，掌握荧光样品制备，蛋白互作、分子生物学实验及动物模型建立等技能。
主 题：本次报告将基于传统共聚焦系统，结合徕卡最新一代白激光器及Power HyD超灵敏检测器，实现荧光寿命相关成像技术（TauSense、FLIM-FRET)，同时可进一步实现Lightning高分辨显微成像，实现更精准共定位及结构信息的获取。内容包括：
白激光共聚焦成像原理
白激光共聚焦多维度功能性成像应用介绍
荧光寿命成像原理及应用介绍
时 间：2025年9月9日 16：30-18：00
地 点：石河子大学中区分析测试中心302
主办方：石河子大学分析测试中心
协办方：莱卡显微系统（上海）贸易公司
欢迎感兴趣的老师同学参与交流
