高分辨场发射透射电子显微镜
FEI Tecnai G2 F20
样品要求：
来样须知：
1.透射电镜不能做磁性样品，样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)等磁性元素。
2.对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持碳膜上并且干燥。
3.易潮解的样品，请提前真空干燥处理。
4.高分辨样品要求厚度在10nm以下。
性能指标：
最大放大倍数：105万倍(1,050,000×) 点分辨率：0.24 nm
加速电压：200KV 极限(信息)分辨率：0.14 nm
STEM分辨率：0.2nm 最小束斑尺寸：0.2nm
物镜球差系数Cs:1.2nm 物镜色差系数Cc:1.2nm
样品台：普通单、双倾台，铍双倾台最大倾转角：±40°
X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92 X射线能谱仪能量分辨率: 136 eV
主要应用：
利用它可进行：（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)，通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品进行进一步的表征；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像，选取电子衍射等。(3)成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析，可对样品进行能谱点测、能谱线扫，获得样品中的元素在一个点、一条线的分布情况。
仪器说明：
Tecnai G2 F20 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研，是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。