场发射扫描电子显微镜 日立SU8010
来样须知：
1. 扫描电镜不能做磁性样品，样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)；
2. 样品不得具有磁性，并且不易被磁化；
3. 样品中不得含有水分，如果是胶体溶液，可事先将液体滴在硅片或锡箔纸或载玻片上干燥后待测；
4. 块状样品高度小于10mm，直径（或最大边长）小于25mm；
5. 多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理；
6. 生物样品请自行预处理、干燥；
7. 样品应具有导电性。若样品不导电，需要进行镀金处理。
性能指标：
分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式）
放大倍数：30倍-800,000倍；电子枪：冷阴极场发射电子源 ; 加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式)
样品台： X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 样品尺寸最大直径：100mm（标准）
信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号
主要应用：
利用SU8010可进行：（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察，同时还可对材料断口和失效进行分析（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。