高分辨场发射透射电子显微镜

发布者:杜珍珠发布时间:2019-07-02浏览次数:898


高分辨场发射透射电子显微镜

仪器型号:FEITecnai G2 F20

主要性能指标:最大放大倍数:105万倍;加速电压: 200KV ;极限分辨率:0.14 nm;样品台:普通单、双倾台,铍双倾台,最大倾转角:±40°X射线能谱仪元素分析范围:B5U92X射线能谱仪能量分辨率: 136eV

主要应用:1)形貌分析,获得非晶材料的质厚衬度像,多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像,通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品进行进一步的表征;(2)结构分析,观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析;(3)成分分析:微区或晶粒的成分分析。


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