高分辨场发射透射电子显微镜

高分辨场发射透射电子显微镜

仪器型号：FEITecnai G2 F20

主要性能指标：最大放大倍数：105万倍；加速电压： 200KV ；极限分辨率：0.14 nm；样品台：普通单、双倾台，铍双倾台，最大倾转角：±40°；X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92；X射线能谱仪能量分辨率: 136eV。

主要应用：（1）形貌分析，获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像，通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品进行进一步的表征；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析；(3)成分分析：微区或晶粒的成分分析。